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新聞活動

讓ESD“玩家”驚呼的主機,你的心愿清單里有它嗎?返回列表

2023年 ESD必備主機:ATS 8000A大家好,我是小鉑,本來寫這篇文章是想中規中矩的列舉各個參數,從數據功能的角度讓大家去了解本次的主角

2023年 ESD必備主機:ATS 8000A

大家好,我是小鉑,本來寫這篇文章是想中規中矩的列舉各個參數,從數據功能的角度讓大家去了解本次的主角,來自HPPI旗下的全自動(VF)TLP/HBM/HMM/CC-TLP解決方案。

但是作為一個多年的工程師,尤其是應用工程師的角度來看,小編真的想換一種方式,從小編多年使用經驗上去訴說一下我的“愛恨情仇。”

說起這個,就不得不提起那些年我和我的客戶們的故事,還記得那是一個夜黑風高的晚上,小編一手持探針,一手調顯微鏡,雙目圓睜,盯著針尖與Pad的相會,實驗室中顯示器熒屏上閃爍的燈光,繼電器規律的啪嗒聲,伴隨著曲線的起伏,一切定格的時候,我們知道,這世上又一顆器件失效了。

看著身旁尚未測試的器件,此時腦海中響起的不是勝利的號角聲,而是弱小無助的小編一遍又一遍的喊著「我醉欲眠卿且去」,奈何卻又被客戶的「一杯一杯復一杯」給蓋了去。

我們知道,大多數的2 pin測試系統已經可以實現Wafer level的全自動測試,但是對于Package level只能手動一顆一顆測試,比如(VF)TLP,HBM,HMM,MM,或者這幾年流行起來的Wafer級別的CDM測試,即CC-TLP。

對于這類測試,有一個測試常識,想必大家都知道,即從測試結果的精確及穩定性上來說,Kelvin測試法要優于兩根探針測試的,說到這里就又不得不提起小編一個過去的痛了,我們公司曾經為某FAB安裝了一套TLP測試系統,因為該客戶測試量比較大,也不測VF-TLP,因此就希望提高效率,所有測試用兩針法來測,但是這就導致了一個問題,就是每次測試的結果可能都會有差異,比如因為落針的力度不同,角度不同都可能引起Pad接觸點幾豪歐到幾十豪歐的差距,雖然TLP系統可以比作是高壓大電流源,接觸電阻帶來的影響可能不會那么大,但是對于客戶來講,測試結果的微小差異也會被放大。

總結一下,通過以上我的經歷不難發現有兩個痛點

1. Package level無法實現全自動測試

2. 兩探針測試的時候,測試結果會有差異

那么接下來就要介紹今天的主角了,ATS-8000A,以及它是怎樣解決以上兩個問題的。

1. ATS-8000A具備真空旋轉Chuck,以及封裝模具,可以將多個任意封裝器件放置在模具中,利用軟件圖形定義,結合硬件3軸自動化針座及旋轉Chuck,即可實現Package器件的全自動測試。

說到這里有的同學可能會問,那我是否可以測試Die,答案當然是可以的!下面請看圖。

2. 針對兩針測試時的測試結果差異問題,根本在于落針力度及位置問題,那么ATS-8000A則是利用探針臂上的精密力傳感器,精度達milli-Newton,用此保證每次落針的力度一樣,既保證了兩針測試的精度,又保證了探針的壽命。

另外有的同學可能會問,是否可以使用雙針尖的探針,答案當然也是可以的,其實使用過的同學知道最好的測試探針是fixed picoprobe,這類針可根據pad間距進行定制,GND回路穩定且短,一般在測VF-TLP這種小脈寬,更快的上升沿時更具優勢,不過針尖間距比較受限,加上在扎針時相對較難,且一般只有大量測試同類產品時才用的多,所以平時小編接觸過的這類用戶其實也不算多,在我們的ATS-8000A系統中這些問題相對可以優化,比如只需要扎一次針,后續就可以通過ATS-8000A系統自動扎針,實現全自動化,相對的就更好用,因此想用這類探針的同學也不必擔心。

好了,給大家畫了這么大的餅,拿了幾張網圖,有些同學已經開始犯困了,那么接下來就為大家展示一段視頻,讓大家感受一下ATS8000A的魅力。

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